| Atomistic and Continuum Modeling of Nanocrystalline Materials |
- isbn : 978-0-387-46771-9
- pisbn : 978-0-387-46765-8
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| Applied Scanning Probe Methods XII |
- isbn : 978-3-540-85039-7
- pisbn : 978-3-540-85038-0
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| Applied Scanning Probe Methods XIII |
- isbn : 978-3-540-85049-6
- pisbn : 978-3-540-85048-9
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| Nanoscale Devices |
- pisbn : 978-3-540-92731-0
- isbn : 978-3-540-92732-7
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| Noncontact Atomic Force Microscopy |
- pisbn : 978-3-642-01494-9
- isbn : 978-3-642-01495-6
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